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FN-II降落值测定仪 杭州降落值测定仪FN-II
根据GB/T10361-2008 《小麦、黑麦及其面粉,杜伦麦及其粗粒粉 降落数值的测定 Hagberg-Perten法》新国家标准自主研制生产了FN-II型降落值仪。它是测定谷物中淀粉酶活性的专用仪器,可准确判断谷物的发芽损伤程度,适用于谷物,尤其是小麦和小麦粉的测定,是粮食贮藏、面粉加工、食品加工等领域中进行质量检测的必备仪器。
FN-II降落值测定仪 技 术 参 数(执行新国标GB/T10361-2008)
8、工作电压:AC220V±10% 50Hz
FN-II降落值测定仪方 法 原 理
面粉、粗粒粉和全麦粉的悬浮液在沸水浴中被迅速糊化,因糊化物中α—淀粉酶活性的不同而使其中的淀粉不同程度的被液化,液化程度不同,粘度搅拌器在糊化物中降落特定距离所需要的时间不同。因此,降落数值(FN)的高低也就表明了相应的α—淀粉酶活性的差异,降落数值(FN)高表明α—淀粉酶的活性低,反之则表明α—淀粉酶的活性高。
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更新时间:2024/3/6 18:10:32
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